Visoria M 编码金相显微镜
使用编码的功能、优化的光强设置及其他显微镜功能可以提高您的工作流程效率
通过优化的光强设置来节省时间
使用Visoria M，您可以有更多时间来观察和检查样品。如果您改变显微镜的放大倍率或观察方式，则无需手动调整亮度，因为它具有光强管理功能。得益于显微镜的编码功能，照明设置会自动调节到合适的光强。
以合适的观察方式呈现样品细节
在工业和材料检验以及研发领域，使用Visoria M可以观察样品结构和缺陷（如划痕或污染）的细节。 它使用多种观察方式，包括明场，暗场，偏光，微分干涉(DIC)，倾斜照明荧光。倾斜照明尤其有助于更，好地观察表面形貌。
使用0.7倍宏观物镜快速概览样品
当您需要观察宏观结构时，可以使用选配的0.7倍宏观物镜快速从样品概览切换到观察微小细节。它让您一眼就能看到直径约36毫米的样品区域，并实现快速定位和概览。与使用传统物镜概览样品相比，使用宏观物镜可以节省样品筛选时间。
由Enersight软件平台驱动
使用Visoria M材料显微镜和Enersight软件平台可以让您的工作流程简化且更有效率。它提供一个直观的界面，帮助您无缝地比较、测量和共享数据。
重要优势：
使用层厚测量功能确定涂层或层的厚度; 使用手动载物台的XY拼接功能，以更大的视野和更高的分辨率观察样品; 使用景深扩展(EDOF)功能采集清晰的样品图像。
使用快速调节亮度功能，以理想的照明和相机设置采集图像; 通过自动校正照明不均造成的阴影来优化图像; 合并不同观察方式（如明场和暗场）获得的多幅图像，从而更好地了解样品。
显微镜观察方式及其应用领域
使用Visoria M材料显微镜，以各种观察方式高效观察和分析零部件及材料样品; 在电子、金属和聚合物行业以及材料科学领域，您可以使用明场、暗场、DIC、偏光和斜照明方式来呈现 表面结构; Visoria M可用于执行与质量控制、故障分析和研发相关的各类日常检测任务。
